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原位技術自1933第一臺電子顯微鏡的誕生之日起的第三年就開始被科學家們所應用，但是受制于材料和加工工藝的限制長期以來發展緩慢，直至最近5年獲得了飛速發展。當電子顯微鏡本身精度已經到達一定極限，原位通過過程觀測給所有研究帶來了新的可能。我國各學科的科學家實際上在原位技術的應用上不落...
掃描電鏡是失效機理分析的重要手段，二次電子成像可以直接觀察斷裂類型和斷裂源。從(準)解理斷裂、韌窩斷裂以及其他顯微斷口特征形貌可以推斷失效是否來源于晶界缺陷、夾雜物以及氫致裂紋(HIC)，所以，掃描電鏡在高質量等級品種鋼開發的過程中扮演著重要的角色。掃描電鏡樣品臺為圓形，靠馬達帶動可以實現X、Y、Z向的步進式移動以及轉動。失效分析試樣的種類繁多，形狀各異，單純依靠導電雙面膠將試樣固定在樣品臺上，固定不牢，因為導電雙面膠與試樣和樣品臺的粘合度不高，在樣品臺移動過程中，樣品易脫落...
查看詳情AltaScientific,Inc.hassignedexclusivedistributionagreementwithEuclidTechLabs2020年8月9日，中國香港——奧達科學有限公司（AltaScientific，Inc.，以下簡稱ALTA）今天正式宣布與EuclidTechLabs（以下簡稱Euclid）簽署經銷協議，成為Euclid大中華區授權經銷商。Euclid是創新型動態（DEM）和超快電子顯微鏡（UEM）解決方案的提供商。其產品主要應用于物理學，材...
查看詳情電學樣品臺可用于材料表面形貌分析，微區形貌觀察，各種材料形狀、大小、表面、斷面、粒徑分布分析，以及各種薄膜樣品表面形貌觀察、薄膜粗糙度及膜厚分析。離子濺射鍍膜是電學樣品臺常用的一個方法，在部分真空的濺射室中輝光放電，產生正的氣體離子；在陰極（靶）和陽極（試樣）間電壓的加速作用下，荷正電的離子轟擊陰極表面，使陰極表面材料原子化；形成的中性原子，從各個方向濺出，射落到試樣的表面，于是在試樣表面上形成一層均勻的薄膜。對于任何待鍍材料，只要能做成靶材，就可實現濺射，濺射方法有四種：直...
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