原位加熱加電樣TKD品臺可以讓用戶在掃描電子顯微鏡 (SEM) 或聚焦離子束 (FIB) 內進行原位加熱和/或電學實驗。 特別是對于 TEM 用戶，該平臺允許用戶在 SEM 內進行相對快速的初步原位樣品表征，以便為進一步的TEM 實驗開發工作流程，從而節省寶貴的 TEM 時間，提高高效的解決方案。
技術參數：
1. *電極數：8電極(可同時加熱和加電)
2. *金屬加熱絲，非陶瓷材料，升溫降溫速度快，即是熱導材料，又是熱敏材料，其電阻與溫度有良好的線性關系。金屬加熱絲是被SiN包裹，不與樣品發生反應。
3. *溫度范圍：高溫芯片：室溫到1100℃，超高溫芯片：室溫到 1300℃，熱電一體芯片：室溫到 900℃。
4. *溫度穩定性：加熱到 1300℃時，只有 < 0.01℃的溫度變化
5. *加熱控制方式：四電極法閉合回路控制和反饋環境溫度
6. *最高電場：300kV/cm(室溫-900℃)
7. *最高工作電壓： 150V(室溫-900℃)
8. 最小的檢測電流：pA范圍
9. 溫度精確度：≥95%
10. 溫度均勻度：≥99.5%
原位加熱加電樣TKD品臺工作原理：在掃描電鏡中對樣品加熱在許多材料科學研究中已經成了一項的手段，使用掃描電鏡原位加熱臺可以進行動態地觀察溫度變化過程中的材料微觀變化及失效分析。如今被廣泛應用于金屬材料、液晶檢測、半導體、高分子材料、流體包裹體、生物工程等眾多領域。原位加熱臺能夠使我們動態地觀察樣品在加熱過程中的相變、再結晶、晶粒生長與氧化現象。
