透射電子顯微鏡是一種提供在較高時間分辨率下得到原子級空間分辨率的實驗手段。透射電子顯微鏡原位電學(xué)性能測試系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝 掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進行操控和電學(xué)測量。
 

　　原位加熱樣品桿適合ETEM和TEM中的原位高溫實驗，其對功率消耗和樣品熱漂移進行了優(yōu)化以獲得好的性能。該樣品桿的高性能原材料和熱管理系統(tǒng)可幫助科學(xué)家對高溫下的樣品進行原子分辨率的快速拍照與觀察。能夠在透射電鏡(TEM)內(nèi)為樣品提供可加熱的氣氛環(huán)境。使得TEM能夠觀察樣品的微觀結(jié)構(gòu)(例如原子結(jié)構(gòu))在氣氛環(huán)境中的演變過程，以直接揭示樣品結(jié)構(gòu)與其氣固界面反應(yīng)性質(zhì)之間的科學(xué)關(guān)系。
 

　　原位加熱樣品桿能夠在透射電鏡內(nèi)完成原位加熱，電學(xué)以及加熱電學(xué)同時進行的相關(guān)實驗。